Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement


آمریکا
کشور
۴٫۰۱۶
Impact Factor
0018-9456
ISSN
1557-9662
e-ISSN
1963 تا کنون
مدت فعالیت
IEEE
ناشر
ieeexplore.ieee.org
سایت مجله

ISI

آخرین بروز رسانی مارس ۲۰۲۳
این مجله در فهرست مجلات ISI وجود دارد و در نمایه استنادی SCIE ثبت شده است علاوه بر آن این مجله در پایگاه داده Current Contents (موضوع مقالات اخیر) مجلات ISI در دسته بندی Engineering, Computing & Technology نیز ثبت شده است یکی دیگر از پایگاه داده های مهم مجلات ISI، پایگاه داده ESI (لبه فناوری) است که این مجله در این پایگاه داده نیز ثبت شده است این مجله در لیست سالانه JCR ذکر شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

Scopus

آخرین بروز رسانی فوریه ۲۰۲۲

این مجله در فهرست مجلات Scopus قرار دارد و با نام IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement ثبت شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

رتبه مجله در رشته تخصصی در پایین جدول بخش سایمگو نشان داده شده است.
مجلات علوم فیزیکی مجلات مهندسی مجلات مهندسی برق و الکترونیک مجلات فیزیک و نجوم مجلات ابزار دقیق

SCImago

آخرین بروز رسانی ژانویه ۲۰۲۰

بر اساس دسته بندی این بنیاد این مجله در دسته Q1 قرار دارد

SJR0.82
h-index (اچ ایندکس)119
Total Documents (مقالات چاپ شده در یک دوره)962
Total Documents (3 years) ( مقالات چاپ شده سه سال گذشته)1170
Total References (همه مراجع موجود در مقالات)32944
Total Cites (3years) (همه مرجع دهی ها سه سال گذشته)5589
Citable Documents (3 years) (مقالات قابل مرجع دهی سه سال گذشته)1120
Cites per Document (2 years) (مرجع دهی به هر مقاله دو سال گذشته)4.47
References per Document (متوسط مراجع یک مقاله چاپ شده)34.25

رشته تخصصی و رتبه مجله در آن رشته:

    اهداف مجله

    مقالاتی به دنبال راه‌حل‌های نوآورانه برای توسعه و استفاده از ابزار و تجهیزات الکتریکی و الکترونیکی برای اندازه‌گیری، نظارت و/یا ثبت پدیده‌های فیزیکی با هدف پیشرفت علم اندازه‌گیری، روش‌ها، عملکرد و کاربردها هستند. دامنه این مقالات ممکن است شامل موارد زیر باشد: (1) نظریه، روش شناسی و عمل اندازه گیری. (2) طراحی، توسعه و ارزیابی سیستم‌های ابزار دقیق و اندازه‌گیری و اجزای مورد استفاده در تولید، کسب، شرطی‌سازی و پردازش سیگنال‌ها. (3) تجزیه و تحلیل، نمایش، نمایش، و حفظ اطلاعات به دست آمده از مجموعه ای از اندازه گیری ها. و (4) پشتیبانی علمی و فنی برای ایجاد و حفظ استانداردهای فنی در زمینه ابزار دقیق و اندازه گیری.

    برای فرستادن دیدگاه باید وارد شوید