تفاوت تاریخ بروزرسانی در صورت داشتن اشتراک

نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus فوریه ۲۰۲۲
ISI مارس ۲۰۲۳
SCImago ژانویه ۲۰۲۰
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه دانشگاه آزاد بهمن ۱۳۹۹
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۲
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۲
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴
نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus ژانویه ۲۰۲۴
ISI آپریل ۲۰۲۴
SCImago می ۲۰۲۴
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه دانشگاه آزاد آذر ۱۴۰۱
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۴
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۴
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴

Iet Circuits Devices & Systems


انگلستان
کشور
۱٫۲۹۷
Impact Factor
1751-858X
ISSN
1751-8598
e-ISSN
2007 تا کنون
مدت فعالیت
Wiley-Blackwell
ناشر
digital-library.theiet.org
سایت مجله

ISI

آخرین بروز رسانی مارس ۲۰۲۳
این مجله در فهرست مجلات ISI وجود دارد و در نمایه استنادی SCIE ثبت شده است علاوه بر آن در پایگاه داده Current Contents مجلات ISI در دو دسته بندی ثبت شده است. این دسته بندی ها عبارتند از:
  • Electronics & Telecommunications Collection
  • Engineering, Computing & Technology
یکی دیگر از پایگاه داده های مهم مجلات ISI، پایگاه داده ESI (لبه فناوری) است که این مجله در این پایگاه داده نیز ثبت شده است این مجله در لیست سالانه JCR ذکر شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

Scopus

آخرین بروز رسانی فوریه ۲۰۲۲

این مجله در فهرست مجلات Scopus قرار دارد بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

رتبه مجله در رشته تخصصی در پایین جدول بخش سایمگو نشان داده شده است.

اهداف مجله

مدارها، دستگاه ها و سیستم های IET موضوعات زیر را پوشش می دهد:

تئوری و طراحی مدار، تحلیل و شبیه سازی مدار، طراحی به کمک کامپیوتر
فیلترها (خازن آنالوگ و سوئیچ)
پیاده سازی مدار، سلول ها و معماری برای ادغام از جمله VLSI
قابلیت آزمایش، طراحی مقاوم به خطا، به حداقل رساندن مدارها و CAD برای VLSI
دستگاه های الکترونیکی جدید یا بهبود یافته برای فناوری های سنتی و نوظهور از جمله نانوالکترونیک و MEM
مشخصات دستگاه و فرآیند، طرح های استخراج پارامتر دستگاه
ریاضیات مدارها و نظریه سیستم ها
تکنیک‌های تست و اندازه‌گیری شامل مدارهای الکترونیکی، مدارها برای کاربردهای صنعتی، حسگرها و مبدل‌ها.


برای فرستادن دیدگاه باید وارد شوید