تفاوت تاریخ بروزرسانی در صورت داشتن اشتراک

نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus فوریه ۲۰۲۲
ISI مارس ۲۰۲۳
SCImago ژانویه ۲۰۲۰
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه دانشگاه آزاد بهمن ۱۳۹۹
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۲
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۲
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴
نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus ژانویه ۲۰۲۴
ISI نوامبر ۲۰۲۴
SCImago می ۲۰۲۴
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم آذر ۱۴۰۳
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه دانشگاه آزاد آذر ۱۴۰۱
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۴
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۴
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴

Iet Science Measurement & Technology


انگلستان
کشور
۱٫۹۱۴
Impact Factor
1751-8822
ISSN
1751-8830
e-ISSN
2007 تا کنون
مدت فعالیت
Wiley-Blackwell
ناشر
digital-library.theiet.org
سایت مجله

ISI

آخرین بروز رسانی مارس ۲۰۲۳
این مجله در فهرست مجلات ISI وجود دارد و در نمایه استنادی SCIE ثبت شده است علاوه بر آن این مجله در پایگاه داده Current Contents (موضوع مقالات اخیر) مجلات ISI در دسته بندی Engineering, Computing & Technology نیز ثبت شده است یکی دیگر از پایگاه داده های مهم مجلات ISI، پایگاه داده ESI (لبه فناوری) است که این مجله در این پایگاه داده نیز ثبت شده است این مجله در لیست سالانه JCR ذکر شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

Scopus

آخرین بروز رسانی فوریه ۲۰۲۲

این مجله در فهرست مجلات Scopus قرار دارد و با نام IET Science, Measurement and Technology ثبت شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

رتبه مجله در رشته تخصصی در پایین جدول بخش سایمگو نشان داده شده است.

اهداف مجله

IET Science, Measurement & Technology مقالاتی را در زمینه علوم، مهندسی و فناوری منتشر می کند که زیربنای مهندسی الکترونیک و برق، نانوتکنولوژی و ابزار دقیق پزشکی است. تاکید این مجله بر نظریه، روش های شبیه سازی و تکنیک های اندازه گیری است.

موضوعات اصلی مجله عبارتند از:

الکترومغناطیس شامل نظریه الکترومغناطیسی، الکترومغناطیسی محاسباتی و EMC
خواص و کاربردهای مواد دی الکتریک، مغناطیسی، مغناطیسی نوری، پیزوالکتریک تا مقیاس نانومتری
اندازه گیری و ابزار دقیق شامل حسگرها، محرک ها، ابزار دقیق پزشکی، اصول اندازه گیری از جمله استانداردهای اندازه گیری، عدم قطعیت، انتشار و کالیبراسیون
برنامه های کاربردی برای اهداف تصویری مورد استقبال قرار می گیرند، اما تازگی و اصالت باید بر روش های جدید پیشنهادی متمرکز شود.


برای فرستادن دیدگاه باید وارد شوید