تفاوت تاریخ بروزرسانی در صورت داشتن اشتراک

نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus فوریه ۲۰۲۲
ISI مارس ۲۰۲۳
SCImago ژانویه ۲۰۲۰
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه دانشگاه آزاد بهمن ۱۳۹۹
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۲
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۲
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴
نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus ژانویه ۲۰۲۴
ISI آپریل ۲۰۲۴
SCImago می ۲۰۲۴
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه دانشگاه آزاد آذر ۱۴۰۱
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۴
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۴
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications



Journal Of Electronic Testing-theory And Applications

هلند
کشور
۰٫۸۸
Impact Factor
۰٫۹۹۳
پنج ساله Impact Factor
اشتراک نقره ای تهیه کنید
زمان داوری مقاله(تصمیم اولیه)
0923-8174
ISSN
1573-0727
e-ISSN
1990 تا کنون
مدت فعالیت
Springer Nature
ناشر
www.springer.com
سایت مجله

ISI

آخرین بروز رسانی مارس ۲۰۲۳
این مجله در فهرست مجلات ISI وجود دارد و در نمایه استنادی SCIE ثبت شده است علاوه بر آن در پایگاه داده Current Contents مجلات ISI در دو دسته بندی ثبت شده است. این دسته بندی ها عبارتند از:
  • Electronics & Telecommunications Collection
  • Engineering, Computing & Technology
یکی دیگر از پایگاه داده های مهم مجلات ISI، پایگاه داده ESI (لبه فناوری) است که این مجله در این پایگاه داده نیز ثبت شده است این مجله در لیست سالانه JCR ذکر شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

Scopus

آخرین بروز رسانی فوریه ۲۰۲۲

این مجله در فهرست مجلات Scopus قرار دارد بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

رتبه مجله در رشته تخصصی در پایین جدول بخش سایمگو نشان داده شده است.

اهداف مجله

مجله تست الکترونیک: تئوری و کاربردها یک انجمن بین المللی برای انتشار اطلاعات تحقیقاتی و کاربردی در حوزه تست الکترونیکی است. این تنها مجله ای است که به طور خاص به تست الکترونیکی اختصاص داده شده است. مقالات برای انتشار در مجله تست الکترونیکی: نظریه و کاربردها از طریق بررسی همتا انتخاب می شوند تا از اصالت، به موقع بودن و مرتبط بودن اطمینان حاصل شود. این مجله مطالب آرشیوی را ارائه می دهد و از طریق چرخه انتشار سریع خود، تلاش می کند تا نتایج اخیر را به محققان و متخصصان برساند. در حالی که بر انتشار مطالب گرانبها منتشر نشده تاکید می‌کند، مقالات کنفرانس با ارزش استثنایی که نیاز به ارائه گسترده‌تری دارند، به صلاحدید ویراستاران نیز منتشر می‌شوند، مشروط بر اینکه استانداردهای بررسی همتایان مجله را داشته باشند. مجله تست الکترونیکی: تئوری و کاربردها همچنین به دنبال مقالات بررسی و مروری به وضوح نوشته شده است تا درک بهتری از وضعیت هنر را ارتقا دهد. مجله تست الکترونیک: پوشش تئوری و برنامه ها شامل موضوعات زیر است، اما محدود به آن نیست: تست VLSI دستگاه‌ها برد مدار چاپی و سیستم‌های الکترونیکی، آزمایش مدارهای الکترونیکی آنالوگ و دیجیتال، آزمایش ریزپردازنده‌ها، حافظه‌ها و دستگاه‌های پردازش سیگنال، مدل‌سازی خطا، تولید آزمایش، شبیه‌سازی خطا، آنالیز تست‌پذیری، طراحی برای آزمایش‌پذیری، سنتز برای آزمایش‌پذیری، ساخته شده در خودآزمایی؛ مشخصات تست؛ تحمل خطا؛ تأیید رسمی سخت‌افزار؛ ​​شبیه‌سازی برای تأیید؛ اشکال‌زدایی طراحی؛ روش‌های هوش مصنوعی و سیستم‌های خبره برای آزمایش و تشخیص؛ تجهیزات تست خودکار (ATE؛ تجهیزات تست؛ سیستم‌های تست پرتو الکترونی؛ برنامه‌نویسی آزمایشی تجزیه و تحلیل داده های تست، اقتصاد تست، کیفیت و قابلیت اطمینان، ابزارهای CAD، تست دستگاه های یکپارچه در مقیاس ویفر، تست قابلیت اطمینان سیستم های الکترونیکی؛ بازده تولید و طراحی برای بهبود بازده؛ تجزیه و تحلیل حالت شکست و بهبود فرآیند

برای فرستادن دیدگاه باید وارد شوید