تفاوت تاریخ بروزرسانی در صورت داشتن اشتراک

نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus فوریه ۲۰۲۲
ISI مارس ۲۰۲۳
SCImago ژانویه ۲۰۲۰
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه دانشگاه آزاد بهمن ۱۳۹۹
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۲
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۲
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴
نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus ژانویه ۲۰۲۴
ISI نوامبر ۲۰۲۴
SCImago می ۲۰۲۴
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم آذر ۱۴۰۳
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه دانشگاه آزاد آذر ۱۴۰۱
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۴
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۴
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴

Journal Of X-ray Science And Technology


هلند
کشور
۱٫۵۳۵
Impact Factor
0895-3996
ISSN
1095-9114
e-ISSN
1989 تا 1998 و 2000 تا کنون
مدت فعالیت
IOS Press
ناشر
www.iospress.nl
سایت مجله

ISI

آخرین بروز رسانی مارس ۲۰۲۳
این مجله در فهرست مجلات ISI وجود دارد و در نمایه استنادی SCIE ثبت شده است علاوه بر آن این مجله در پایگاه داده Current Contents (موضوع مقالات اخیر) مجلات ISI در دسته بندی Physical, Chemical & Earth Sciences نیز ثبت شده است یکی دیگر از پایگاه داده های مهم مجلات ISI، پایگاه داده ESI (لبه فناوری) است که این مجله در این پایگاه داده نیز ثبت شده است این مجله در لیست سالانه JCR ذکر شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

اهداف مجله

زمینه های تحقیقاتی در حوزه مجله عبارتند از:

برهم کنش اشعه ایکس با ماده: پدیده های اشعه ایکس، اثرات بیولوژیکی تابش، ایمنی تابش و ثابت های نوری

منابع اشعه ایکس: اشعه ایکس از سینکروترون ها، لیزرهای اشعه ایکس، پلاسما و سایر منابع، معمولی یا غیر متعارف

عناصر نوری: اپتیک های بروز چرا، آینه های چندلایه، صفحات زون، گریتینگ ها، سایر اپتیک های پراش

ابزارهای نوری: تداخل سنج، طیف سنج، میکروسکوپ، تلسکوپ، میکروپروب

برای فرستادن دیدگاه باید وارد شوید