نمایه | آخرین بروز رسانی |
---|---|
Scopus | فوریه ۲۰۲۲ |
ISI | مارس ۲۰۲۳ |
SCImago | ژانویه ۲۰۲۰ |
ISI Open Access Journals | مارس ۲۰۲۴ |
لیست سیاه وزارت علوم | فروردین ۱۴۰۲ |
لیست سیاه وزارت بهداشت | فروردین ۱۴۰۲ |
لیست سیاه دانشگاه آزاد | بهمن ۱۳۹۹ |
مجلات دارای زمان داوری | ژانویه ۲۰۲۲ |
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش | ژانویه ۲۰۲۲ |
فراخوانهای مقاله | فوریه ۲۰۲۴ |
نمایه | آخرین بروز رسانی |
---|---|
Scopus | ژانویه ۲۰۲۴ |
ISI | نوامبر ۲۰۲۴ |
SCImago | می ۲۰۲۴ |
ISI Open Access Journals | مارس ۲۰۲۴ |
لیست سیاه وزارت علوم | آذر ۱۴۰۳ |
لیست سیاه وزارت بهداشت | فروردین ۱۴۰۳ |
لیست سیاه دانشگاه آزاد | آذر ۱۴۰۱ |
مجلات دارای زمان داوری | ژانویه ۲۰۲۴ |
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش | ژانویه ۲۰۲۴ |
فراخوانهای مقاله | فوریه ۲۰۲۴ |
Journal Of X-ray Science And Technology
هلند | کشور |
۱٫۵۳۵ | Impact Factor |
0895-3996 | ISSN |
1095-9114 | e-ISSN |
1989 تا 1998 و 2000 تا کنون | مدت فعالیت |
IOS Press | ناشر |
www.iospress.nl | سایت مجله |
این مجله در فهرست مجلات Scopus قرار دارد و با نام Journal of X-Ray Science and Technology ثبت شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:
بر اساس دسته بندی این بنیاد این مجله در دسته Q2 قرار دارد
رشته تخصصی و رتبه مجله در آن رشته:
زمینه های تحقیقاتی در حوزه مجله عبارتند از:
برهم کنش اشعه ایکس با ماده: پدیده های اشعه ایکس، اثرات بیولوژیکی تابش، ایمنی تابش و ثابت های نوری
منابع اشعه ایکس: اشعه ایکس از سینکروترون ها، لیزرهای اشعه ایکس، پلاسما و سایر منابع، معمولی یا غیر متعارف
عناصر نوری: اپتیک های بروز چرا، آینه های چندلایه، صفحات زون، گریتینگ ها، سایر اپتیک های پراش
ابزارهای نوری: تداخل سنج، طیف سنج، میکروسکوپ، تلسکوپ، میکروپروب