با توجه به سطح اشتراک شما تمامی داده های مربوط به مجلات، قدیمی است. برای تهیه اشتراک و دریافت اطلاعات بیشتر در خصوص سطح بندی امکانات سایت کلید کنید. برای مشاهده تفاوت تاریخ بروزرسانی هر بخش در دو حالت مذکور

تفاوت تاریخ بروزرسانی در صورت داشتن اشتراک

نمایه	آخرین بروز رسانی
Scopus	فوریه ۲۰۲۲
ISI	مارس ۲۰۲۳
SCImago	ژانویه ۲۰۲۰
ISI Open Access Journals	مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم	فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه وزارت بهداشت	فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه دانشگاه آزاد	بهمن ۱۳۹۹
مجلات دارای زمان داوری	ژانویه ۲۰۲۲
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش	ژانویه ۲۰۲۲
فراخوانهای مقاله	فوریه ۲۰۲۴

نمایه	آخرین بروز رسانی
Scopus	ژانویه ۲۰۲۴
ISI	آپریل ۲۰۲۴
SCImago	می ۲۰۲۴
ISI Open Access Journals	مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم	فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه وزارت بهداشت	فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه دانشگاه آزاد	آذر ۱۴۰۱
مجلات دارای زمان داوری	ژانویه ۲۰۲۴
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش	ژانویه ۲۰۲۴
فراخوانهای مقاله	فوریه ۲۰۲۴

Journal Of X-ray Science And Technology

هلند	کشور
۱٫۵۳۵	Impact Factor
0895-3996	ISSN
1095-9114	e-ISSN
1989 تا 1998 و 2000 تا کنون	مدت فعالیت
IOS Press	ناشر
www.iospress.nl	سایت مجله

توجه: با توجه به سطح کاربری شما اطلاعات نمایش داده شده قدیمی است

ISI

آخرین بروز رسانی مارس ۲۰۲۳

این مجله در فهرست مجلات ISI وجود دارد و در نمایه استنادی SCIE ثبت شده است علاوه بر آن این مجله در پایگاه داده Current Contents (موضوع مقالات اخیر) مجلات ISI در دسته بندی Physical, Chemical & Earth Sciences نیز ثبت شده است یکی دیگر از پایگاه داده های مهم مجلات ISI، پایگاه داده ESI (لبه فناوری) است که این مجله در این پایگاه داده نیز ثبت شده است این مجله در لیست سالانه JCR ذکر شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

Scopus

آخرین بروز رسانی فوریه ۲۰۲۲

این مجله در فهرست مجلات Scopus قرار دارد بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

رتبه مجله در رشته تخصصی در پایین جدول بخش سایمگو نشان داده شده است.

مجلات علوم فیزیکی مجلات مهندسی مجلات مهندسی برق و الکترونیک مجلات فیزیک و نجوم مجلات فیزیک ماده متراکم مجلات علوم بهداشتی مجلات پزشکی مجلات رادیولوژی، پزشکی هسته ای و تصویربرداری مجلات ابزار دقیق مجلات تابش - تشعشع

SCImago

آخرین بروز رسانی ژانویه ۲۰۲۰

بر اساس دسته بندی این بنیاد این مجله در دسته Q2 قرار دارد

SJR	0.357
h-index (اچ ایندکس)	32
Total Documents (مقالات چاپ شده در یک دوره)	103
Total Documents (3 years) ( مقالات چاپ شده سه سال گذشته)	220
Total References (همه مراجع موجود در مقالات)	3239
Total Cites (3years) (همه مرجع دهی ها سه سال گذشته)	322
Citable Documents (3 years) (مقالات قابل مرجع دهی سه سال گذشته)	218
Cites per Document (2 years) (مرجع دهی به هر مقاله دو سال گذشته)	1.53
References per Document (متوسط مراجع یک مقاله چاپ شده)	31.45

رشته تخصصی و رتبه مجله در آن رشته:

اهداف مجله

زمینه های تحقیقاتی در حوزه مجله عبارتند از:

برهم کنش اشعه ایکس با ماده: پدیده های اشعه ایکس، اثرات بیولوژیکی تابش، ایمنی تابش و ثابت های نوری

منابع اشعه ایکس: اشعه ایکس از سینکروترون ها، لیزرهای اشعه ایکس، پلاسما و سایر منابع، معمولی یا غیر متعارف

عناصر نوری: اپتیک های بروز چرا، آینه های چندلایه، صفحات زون، گریتینگ ها، سایر اپتیک های پراش

ابزارهای نوری: تداخل سنج، طیف سنج، میکروسکوپ، تلسکوپ، میکروپروب