تفاوت تاریخ بروزرسانی در صورت داشتن اشتراک

نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus فوریه ۲۰۲۲
ISI مارس ۲۰۲۳
SCImago ژانویه ۲۰۲۰
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه دانشگاه آزاد بهمن ۱۳۹۹
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۲
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۲
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴
نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus ژانویه ۲۰۲۴
ISI آپریل ۲۰۲۴
SCImago می ۲۰۲۴
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه دانشگاه آزاد آذر ۱۴۰۱
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۴
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۴
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴

Microelectronics Reliability



Microelectronics Reliability

انگلستان
کشور
۱٫۵۸۹
Impact Factor
۱٫۵۷۱
پنج ساله Impact Factor
اشتراک نقره ای تهیه کنید
زمان داوری مقاله(تصمیم اولیه)
اشتراک نقره ای تهیه کنید
زمان داوری مقاله(تصمیم نهایی)
0026-2714
ISSN
1872-941X
e-ISSN
1962 تا کنون
مدت فعالیت
Elsevier
ناشر
www.journals.elsevier.com
سایت مجله

ISI

آخرین بروز رسانی مارس ۲۰۲۳
این مجله در فهرست مجلات ISI وجود دارد و در نمایه استنادی SCIE ثبت شده است علاوه بر آن در پایگاه داده Current Contents مجلات ISI در دو دسته بندی ثبت شده است. این دسته بندی ها عبارتند از:
  • Electronics & Telecommunications Collection
  • Engineering, Computing & Technology
یکی دیگر از پایگاه داده های مهم مجلات ISI، پایگاه داده ESI (لبه فناوری) است که این مجله در این پایگاه داده نیز ثبت شده است این مجله در لیست سالانه JCR ذکر شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

اهداف مجله

قابلیت اطمینان میکروالکترونیک، به انتشار آخرین نتایج تحقیقات و اطلاعات مرتبط در مورد قابلیت اطمینان دستگاه‌ها، مدارها و سیستم‌های میکروالکترونیک، از مواد، فرآیند و ساخت، طراحی، آزمایش و بهره‌برداری اختصاص دارد. پوشش مجله شامل موضوعات زیر است: اندازه گیری، درک و تجزیه و تحلیل. ارزیابی و پیش بینی؛ مدل سازی و شبیه سازی؛ روش ها و کاهش مقالاتی که قابلیت اطمینان را با سایر حوزه‌های مهم مهندسی میکروالکترونیک، مانند طراحی، ساخت، یکپارچه‌سازی، آزمایش و عملیات میدانی ترکیب می‌کنند، نیز مورد استقبال قرار می‌گیرند، و مقالات عملی که مطالعات موردی را در این زمینه و حوزه‌های کاربردی خاص گزارش می‌کنند، تشویق می‌شوند.
اکثر مقالات پذیرفته شده به عنوان مقالات تحقیقاتی منتشر می شوند و پیشرفت های قابل توجه و کارهای تکمیل شده را توصیف می کنند. مقالاتی که موضوعات مهم در حال توسعه مورد علاقه عمومی را بررسی می کنند ممکن است برای انتشار به عنوان مقالات مروری پذیرفته شوند. همه مشارکت‌ها توسط کارشناسان برجسته در این زمینه بررسی می‌شوند. موضوعات ویژه به کنفرانس های بین المللی مهم یا موضوعات مهم در حال توسعه اختصاص داده شده است.

Microelectronics Reliability یک انجمن ضروری برای تبادل دانش و تجربه بین متخصصان قابلیت اطمینان میکروالکترونیک از محیط‌های دانشگاهی و صنعتی و همه کسانی است که به هر نحوی با صنعت در حال رشد میکروالکترونیک و زمینه‌های کاربردی متعدد آن مرتبط هستند.

فراخوان مقاله

آخرین بروز رسانی فوریه ۲۰۲۴

اشتراک طلایی تهیه کنید


برای فرستادن دیدگاه باید وارد شوید