نمایه | آخرین بروز رسانی |
---|---|
Scopus | فوریه ۲۰۲۲ |
ISI | مارس ۲۰۲۳ |
SCImago | ژانویه ۲۰۲۰ |
ISI Open Access Journals | مارس ۲۰۲۴ |
لیست سیاه وزارت علوم | فروردین ۱۴۰۲ |
لیست سیاه وزارت بهداشت | فروردین ۱۴۰۲ |
لیست سیاه دانشگاه آزاد | بهمن ۱۳۹۹ |
مجلات دارای زمان داوری | ژانویه ۲۰۲۲ |
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش | ژانویه ۲۰۲۲ |
فراخوانهای مقاله | فوریه ۲۰۲۴ |
نمایه | آخرین بروز رسانی |
---|---|
Scopus | ژانویه ۲۰۲۴ |
ISI | آپریل ۲۰۲۴ |
SCImago | می ۲۰۲۴ |
ISI Open Access Journals | مارس ۲۰۲۴ |
لیست سیاه وزارت علوم | فروردین ۱۴۰۳ |
لیست سیاه وزارت بهداشت | فروردین ۱۴۰۳ |
لیست سیاه دانشگاه آزاد | آذر ۱۴۰۱ |
مجلات دارای زمان داوری | ژانویه ۲۰۲۴ |
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش | ژانویه ۲۰۲۴ |
فراخوانهای مقاله | فوریه ۲۰۲۴ |
Spectrochimica Acta Part B-atomic Spectroscopy
هلند | کشور |
۳٫۷۵۲ | Impact Factor |
۳٫۳۷۵ | پنج ساله Impact Factor |
اشتراک نقره ای تهیه کنید | زمان داوری مقاله(تصمیم اولیه) |
اشتراک نقره ای تهیه کنید | زمان داوری مقاله(تصمیم نهایی) |
0584-8547 | ISSN |
1873-3565 | e-ISSN |
1967 تا کنون | مدت فعالیت |
Elsevier | ناشر |
www.journals.elsevier.com | سایت مجله |
این مجله در فهرست مجلات Scopus قرار دارد بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:
بر اساس دسته بندی این بنیاد این مجله در دسته Q1 قرار دارد
رشته تخصصی و رتبه مجله در آن رشته:
Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy، برای انتشار سریع کار اصلی و بررسی در زمینه های زیر در نظر گرفته شده است:
طیف سنجی انتشار اتمی (AES)، جذب اتمی (AAS) و فلورسانس اتمی (AFS).
طیف سنجی جرمی (MS) برای تجزیه و تحلیل معدنی پوشش دهنده منبع جرقه (SS-MS)، پلاسمای جفت القایی (ICP-MS)، تخلیه درخشش (GD-MS)، و طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS).
طیفسنجی اتمی القا شده با لیزر برای آنالیز معدنی، از جمله طیفسنجی لیزری نوری غیر خطی، پوششدهنده یونیزاسیون تقویتشده لیزری (LEI)، فلورسانس القایی لیزری (LIF)، طیفسنجی یونیزاسیون تشدید (RIS) و طیفسنجی جرمی یونیزاسیون تشدید (RIMS). طیف سنجی شکست ناشی از لیزر (LIBS)؛ طیفسنجی حلقهدان حفره (CRDS)، طیفسنجی انتشار اتمی پلاسمای القایی جفتشده با لیزر فرسایش (LA-ICP-AES) و طیفسنجی جرمی جفت القایی پلاسما با لیزر فرسایش (LA-ICP-MS).
طیف سنجی اشعه ایکس، اپتیک اشعه ایکس و میکروآنالیز، از جمله طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس (XRF) و تکنیک های مرتبط، به ویژه طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس با بازتاب کامل (TXRF) و بازتاب کامل تابش سنکروترون XRF (SR-) TXRF).
نسخههای خطی مربوط به (i) مبانی، (ii) توسعه روششناسی، (iii) ابزار دقیق، و (IV) برنامهها را میتوان برای انتشار ارسال کرد.
تاکید بر مقالاتی است که با "تحلیل طیف شیمیایی" رابطه دارند. موضوعات اصلی شامل مطالعات نظری یا تجربی در مورد فرآیندهای فیزیکی و شیمیایی مرتبط با تولید طیف اتمی یا جرمی خواهد بود. تعیین داده های اتمی؛ تشخیص منابع طیف شیمیایی؛ اصول، طراحی یا عملکرد سیستمهای ابزاری کامل، اجزای ابزار، یا دستگاههای مورد استفاده در هر یک از زمینههای فوق طیفسنجی؛ تجزیه و تحلیل کیفی و کمی به معنای روشهای تحلیلی کامل با استفاده از یک روش واحد یا ترکیبی از روشها یا بخشهایی از روشهای کامل: نمونهگیری، آمادهسازی نمونه، معرفی نمونه، تشخیص، جمعآوری و مدیریت دادهها (شامل کالیبراسیون و ارزیابی آماری). عملکرد تحلیلی و ارقام تحلیلی شایستگی: حدود تشخیص و حدود تعیین، انتخاب، دقت، دقت، تداخل.
مقالات مروری معتبر و جامع، اختصاص داده شده به موضوع یا زمینه تجزیه و تحلیل خاص، به طور منظم منتشر می شوند. بهعلاوه، از بررسیها یا دیدگاههای کوتاهتر و مختصر با تمرکز بر وضعیت فعلی و چشمانداز آینده یک زمینه یا موضوعی که بهویژه مربوط به توسعه روششناسی تحلیلی جدید یا درک بهتر اصول اساسی اساسی آن است، استقبال میشود. مرورهای آموزشی که مفاهیم بنیادی عمیق در طیفسنجی اتمی و طیفسنجی اتمی تحلیلی را نشان میدهد نیز منتشر شده است.
مقالاتی که کاربرد یک تکنیک طیفسنجی را برای آنالیز توصیف میکنند نیز در نظر گرفته میشوند. با این حال، در این مورد، طعم طیفسنجی نسخه خطی باید قابل توجه باشد: دستور العملهای تحلیلی صرف یا مقالاتی که بر تکنیکهای جداسازی و پیش تمرکز تأکید دارند، نباید ارائه شوند. در نهایت، به صلاحدید ویراستاران، انتشار سریع مقالات کوتاهی که با مفاهیم جدید مهم، تحولات ابزاری یا کاربردها سروکار دارند، در نظر گرفته خواهد شد.