تفاوت تاریخ بروزرسانی در صورت داشتن اشتراک

نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus فوریه ۲۰۲۲
ISI مارس ۲۰۲۳
SCImago ژانویه ۲۰۲۰
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۲
لیست سیاه دانشگاه آزاد بهمن ۱۳۹۹
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۲
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۲
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴
نمایه آخرین بروز رسانی
Scopus ژانویه ۲۰۲۴
ISI نوامبر ۲۰۲۴
SCImago می ۲۰۲۴
ISI Open Access Journals مارس ۲۰۲۴
لیست سیاه وزارت علوم آذر ۱۴۰۳
لیست سیاه وزارت بهداشت فروردین ۱۴۰۳
لیست سیاه دانشگاه آزاد آذر ۱۴۰۱
مجلات دارای زمان داوری ژانویه ۲۰۲۴
مجلات درجه بندی شده از نظر سختی پذیرش ژانویه ۲۰۲۴
فراخوانهای مقاله فوریه ۲۰۲۴

Journal Of Surface Investigation



Journal Of Surface Investigation

آمریکا
کشور
۰٫۳۵۹
Impact Factor
1027-4510
ISSN
1819-7094
e-ISSN
1997 تا 2001 و 2007 تا کنون
مدت فعالیت
Pleiades Publishing
ناشر
www.springer.com
سایت مجله

ISI

آخرین بروز رسانی مارس ۲۰۲۳
این مجله در فهرست مجلات ISI وجود دارد و در نمایه استنادی ESCI ثبت شده است ورود به این نمایه به این معنی است که از نظر بررسی کنندگان، مجله مذکور فاقد شروط لازم از نظر تاثیرگذاری است. برای اطلاعات بیشتر در این خصوص مطالعه مقاله بررسی تفاوت میان نمایه های ESCI و SCIE توصیه می شود. این مجله در لیست سالانه JCR ذکر شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته تخصصی زیر قرار دارند:

Scopus

آخرین بروز رسانی فوریه ۲۰۲۲

این مجله در فهرست مجلات Scopus قرار دارد و با نام Journal of Surface Investigation ثبت شده است. بر اساس تقسیم بندی این بنیاد مقالات چاپ شده در این مجله در رشته های تخصصی زیر قرار دارند:

رتبه مجله در رشته تخصصی در پایین جدول بخش سایمگو نشان داده شده است.

اهداف مجله

مجله بررسی سطح: تکنیک های اشعه ایکس، سنکروترون و نوترون مقالات اصلی را در مورد مسائل موضوعی فیزیک حالت جامد، علم مواد، تکنیک های تجربی، محیط های متراکم، نانوساختارها، سطوح لایه های نازک، و مرزهای فاز: ساختارهای هندسی و انرژی منتشر می کند. سطوح، روش های شبیه سازی کامپیوتری. خواص فیزیکی و شیمیایی و تغییرات آنها در اثر تشعشع و سایر درمانها. روش‌های مطالعه فیلم‌ها و لایه‌های سطحی کریستال‌ها (XRD، XPS، تابش سنکروترون، پراش نوترون و الکترون، میکروسکوپ الکترونی، میکروسکوپی تونل روبشی، مطالعات میکروسکوپی نیروی اتمی، و سایر روش‌هایی که داده‌های سطوح و لایه‌های نازک را ارائه می‌دهند). مقالات مرتبط با روش ها و تکنیک های مطالعات سازه در کانون توجه مجله می باشد. این مجله نسخه های خطی مقالات و نقدهای منظم را به زبان انگلیسی یا روسی از نویسندگان همه کشورها می پذیرد. تمامی نسخه های خطی بررسی شده است.

برای فرستادن دیدگاه باید وارد شوید